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MET 对于医疗设备的易被干扰性的RFID 程序测试方法研发

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发表于 2011-11-21 01:10:19 | 显示全部楼层 |阅读模式

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  AIM,FDA及MET对医疗设备在RFID程序中的易被干扰性进行了数月的研究,研发了一套测试程序,并将于12月的网络研讨会中发布。


                               
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医疗设备制造商将会被邀请加入到该测试程序,可向MET提供具代表性的设备进行RFID测试。

了解更多,请登录MET中国官网:www.metlabs-cn.com
或邮件咨询:chinamarketing@metlabs.com

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